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半导体特性测试仪
日本KDK TCT-2003半导体特性曲线分析仪|TCT-2003半导体特性曲线分析仪
日本KDK TCT-2003半导体特性曲线分析仪|TCT-2003半导体特性曲线分析仪的特点: 最大集极电流 10A/pulse 20A 可测试高达 2000V 的扫描电压和 200pA/DIV 的微小电流测定 STEP 电源之 OFFSET 调整, (+)(-) 两级可任意设定,可做 FET 广范围测定 集极电源可做交流,直流,...
作者:TCT-2003发表于:2007-11-21 17:46:11 点击:0 评论:0 查阅全文...
日本KDK TCT-2004半导体特性曲线分析仪|TCT-2004半导体特性曲线分析仪
日本KDK TCT-2004半导体特性曲线分析仪|TCT-2004半导体特性曲线分析仪的特点: 可程式控制面板操作 (GPIB 标准介面 ) 参数的量测状态直接显示在 CRT 上 利用游标功能可判定元件 GO/NO-GO 最大集极电流 10A(Pulse 40A) , 5A/DIV 最小集极电流 100pA/DIV 最大集极电压 2k...
作者:TCT-2004发表于:2007-11-21 17:41:38 点击:0 评论:0 查阅全文...
TCT-2005半导体特性曲线分析仪|日本KDK TCT-2005半导体特性曲线分仪
日本KDK TCT-2003半导体特性曲线分析仪|TCT-2003半导体特性曲线分仪的特点: 参数的量测状态直接显示在 CRT 上 最大集极电流 10A( Pulse 20A) , 2A/DIV 最小集极电流 200pA/DIV 最大集极电压 2kV , 200V/DIV GPIB 标准介面 可接绘图机 日本KDK TCT-2003半导体特性曲线...
作者:TCT-2005发表于:2007-11-21 17:34:13 点击:0 评论:0 查阅全文...
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